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探頭涂層測厚儀TT260/AT260

作者:admin 來源: 日期:2013-09-18 09:44:48 人氣:6 加入收藏 標簽:

涂層測厚儀探頭

一,F1探頭是磁(ci)性法(fa)測量的通用(yong)標(biao)準探頭,測量范圍(wei)0-1250um,基本覆(fu)蓋(gai)大部(bu)分涂層厚度范圍,也是TT260/AT260的標配探(tan)頭(tou)。

涂層(ceng)測厚儀F1探頭

工作原理:磁感應 | 分(fen)辨力(li):0.1um

測量范圍:0-1250um

示值誤差(cha):

1,一點(dian)校準:±[3%H+1]um

2,兩點校準(zhun):±[(13)%H+1]um

測(ce)量條件:

1,最小曲(qu)率半(ban)徑:凸1.5mm

2,基體(ti)最小(xiao)面(mian)積的直徑:Ф7mm

3,最小臨(lin)界厚(hou)度:0.5mm

探頭(tou)尺寸(cun):Ф12X47mm

二,N1探頭是渦流法測量的通(tong)用標準探頭,測量范圍0-1250um,基本覆蓋大部分涂層厚(hou)度范圍(wei),也(ye)是TT260的(de)標配探頭。

涂層測厚儀N1探頭(tou)

工(gong)作(zuo)原理:電渦流 | 分辨力:0.1um

測量范圍:0-1250 | 銅上(shang)鍍鉻0-40um

示值誤差(cha):

1,一點校準:±[3%H+1]um

2,兩(liang)點校準:±[(13)%H+1]um

測量(liang)條件(jian):

1,最小曲率(lv)半徑:凸3mm

2,基體最小面(mian)積的直徑:Ф5mm

3,最(zui)小臨界厚度:0.3mm

探(tan)頭尺寸:Ф15X73mm

三,TT260/AT260選配F400探(tan)頭(tou),主要用于較(jiao)薄厚度(du)的(de)涂層測量,可獲得更精確的(de)測量結果和更高的(de)重復性,另外在(zai)管材基(ji)體(ti)直徑較(jiao)小或(huo)者被測區域接觸面(mian)積較(jiao)小時,F400探頭(tou)也是極佳的選擇。

涂層測厚儀(yi)F400探頭

工作(zuo)原理:磁感應 | 分辨力:0.1um

測量范(fan)圍:0-400um

示值誤差:

1,一(yi)點校準:±[3%H+1]um

2,兩點校準:±[(13)%H+0.7]um

測(ce)量條件(jian):

1,最小曲率半徑:凸1mm

2,基體(ti)最小面積(ji)的(de)直徑:Ф3mm

3,最小臨界厚度(du):0.2mm

探頭尺寸:Ф12X55mm

四,TT260/AT260選配F10探頭,測量范圍(wei)由標配的0-1250um擴展至0-10000um,主要用于大厚度的涂層測量。選配(pei)F10探頭還應(ying)增配(pei)2000um4000um8000um的(de)標準(zhun)校準(zhun)片,用(yong)于校準(zhun)儀器(qi)。

涂層測厚(hou)儀F10探頭

工作(zuo)原(yuan)理:磁感應 | 分辨力(li):10um

測量范圍(wei):0-10000um

示值誤差:

1,一(yi)點校準:±[3%H+10]um

2,兩點校準:±[(13)%H+10]um

測量條件(jian):

1,最小(xiao)曲率半(ban)徑(jing):凸10mm

2,基(ji)體最小面積的(de)直徑:Ф40mm

3,最(zui)小臨界厚度:2mm

探頭尺(chi)寸:Ф27X47mm

五,TT260/AT260選配(pei)CN02探頭,主要用于測量線路(lu)板上的銅(tong)箔厚度,檢測范圍在10-200um之間(jian)。

涂(tu)層測(ce)厚儀CN02探頭

工(gong)作(zuo)原理:電渦流 | 分辨(bian)力:1um

測量范(fan)圍:10-200um

示值誤差:

1,一點(dian)校準(zhun):±[3%H+1]um

2,兩點校(xiao)準:

測量條(tiao)件:

1,最小(xiao)曲(qu)率半(ban)徑:平直

2,基體(ti)最小面(mian)積(ji)的直(zhi)徑(jing):Ф7mm

3,最小臨界厚度:無(wu)限制

探頭尺寸:Ф16X67mm

六,TT260/AT260選(xuan)配F1/90探(tan)頭,主要用于管材內(nei)壁(bi)的(de)涂層厚度測量。它細(xi)長的(de)身形可以(yi)輕松的(de)深入其它探(tan)頭無法到達的(de)細(xi)管中。夾層和細(xi)縫(feng)中的(de)涂層厚度測量也是它的(de)拿手好戲。

涂(tu)層測厚儀(yi)F1|90探(tan)頭

工作(zuo)原理:磁感應 | 分辨力:0.1um

測量范圍:0-1250um

示值誤(wu)差:

1,一點校準:±[3%H+1]um

2,兩點校準:±[(13)%H+1]um

測量(liang)條(tiao)件(jian):

1,最小曲率半(ban)徑:平直

2,基體(ti)最小面(mian)積的直徑:Ф7mm

3,最小(xiao)臨界(jie)厚度:0.5mm

探(tan)頭尺(chi)寸(cun):Ф7.5X11X200mm

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